Rauschmessungen an Widerständen und Halbleitern
Betreuer: Dr. Jürgen Vogt
Der Versuch befasst sich mit den theoretischen Grundlagen des
elektronischen Rauschens und dessen Messung an Widerständen und
Halbleiterbauelementen.
Mit Hilfe der Rauschanalyse werden die Rauschleistung am Ausgang einer
elektronischen Schaltung und das Rauschen von Widerständen und
Halbleitern gemessen.
Es werden folgende Teilversuche durchgeführt:
- Messung der Durchlasskurve und Bestimmung der äquivalenten Rauschbandbreite eines Verstärkers,
- Bestimmung der effektiven Rauschspannung am Verstärkereingang für offenen und kurzgeschlossenen Verstärkereingang,
- Berechnung des äquivalenten Rauschwiderstands und des Eingangswiderstands des Verstärkers,
- Bestimmung der Boltzmann-Konstanten,
- Rauschen als absolutes Thermometer
