Rauschmessungen an Widerständen und Halbleitern
Betreuer: Dr. Jürgen Vogt
Der Versuch befasst sich mit den theoretischen Grundlagen des elektronischen Rauschens und dessen Messung an Widerständen und Halbleiterbauelementen.
Mit Hilfe der Rauschanalyse werden die Rauschleistung am Ausgang einer elektronischen Schaltung und das Rauschen von Widerständen und Halbleitern gemessen.
Es werden folgende Teilversuche durchgeführt:
- Messung der Durchlasskurve und Bestimmung der äquivalenten Rauschbandbreite eines Verstärkers,
- Bestimmung der effektiven Rauschspannung am Verstärkereingang für offenen und kurzgeschlossenen Verstärkereingang,
- Berechnung des äquivalenten Rauschwiderstands und des Eingangswiderstands des Verstärkers,
- Bestimmung der Boltzmann-Konstanten,
- Rauschen als absolutes Thermometer
Versuchsunterlagen