Versuche

1. Kernmagnetische Resonanz
2. Optisches Pumpen
3. Dopplerfreie Rb-Sättigungsspektroskopie
4. Elektro- und Photolumineszenz


5. Rotations-Schwingungsspektren von Molekülen
6. Gitterschwingungen und Effekte freier Ladungsträger in Festkörpern
7. Raman-Spektroskopie an Festkörpern


8. Zeeman-Effekt
9. Hochauflösende Gammaspektroskopie mit dem Ge-Halbleiter-Detektor
10. Alpha-Teilchen-Spektroskopie mit einem Halbleiterdetektor


11. Röntgenbeugung (XRD)
12. Massenspektrometrie von Gasen und einfachen organischen Molekülen
13. Hall-Effekt und elektrische Leitfähigkeit


14. Optische Spektroskopie an Farbzentren und Molekülen
15. Franck-Hertz-Versuch
16. Flussquantisierung in supraleitenden Ringen: Experimente mit einem DC-SQUID


17. Elektronen-Paramagnetische Resonanz
18. Untersuchung von Festkörperoberflächen mit dem Raster-Tunnel-Mikroskop
19. Untersuchung von Festkörperoberflächen mit dem Raster-Kraft-Mikroskop

 

Untersuchung von Festkörperoberflächen mit dem Raster-Kraft-Mikroskop

Betreuer: Dr. S. Vogt


Die Rasterkraft-Mikroskopie (AFM) hat gegenüber der Raster-Tunnel-Mikroskopie den Vorzug, auch für elektrisch isolierende Proben anwendbar zu sein. Außerdem ist der laterale und der vertikale Scanbereich wesentlich größer. In diesem Experiment werden eine Reihe von Proben mit Oberflächenstrukturen im Mikro- und Nanometer-Bereich wie Speicherschaltkreise, Eichgitter, CD-ROM, ein optisches Gitter und granulare, nanokristalline Dünnfilme mit dem AFM Easy Scan im contact mode untersucht.
Als methodische Grundlage werden die repulsiven und attraktiven Wechselwirkungspotenziale Spitze – Probe  bei Abständen im nm-Bereich betrachtet. Weiter wird die Wirkungsweise des AFM – Gerätes, der Einfluss der Federkonstanten des Cantilevers und die statischen und dynamischen Betriebsmodi contact  mode und tapping  mode dargestellt. Zum Vergleich der Ortsauflösung  werden die gleichen Proben an einem Auflichtmikroskop untersucht.
Das Experiment vermittelt einen umfassenden praktischen Eindruck der Möglichkeiten und Grenzen der Oberflächenuntersuchung mit einem AFM.



Versuchsunterlagen

Manual